NWO - Nederlandse Organisatie voor Wetenschappelijk Onderzoek - print-logo

URL voor deze pagina :
https://archief.nwo-i.nl/geen-categorie/2010/05/20/mark-boneschanscher/

Geprint op :
19 maart 2025
14:27:26

 
Eind 2009 ben ik begonnen met mijn promotieonderzoek aan de Universiteit Utrecht. Aan diezelfde universiteit heb ik al eerder ervaren hoe belangrijk de rol van medezeggenschap is. Ik ben dan ook meteen in actie gekomen toen ik hoorde dat er een vacature was voor de vertegenwoordiging van de FOM-medewerkers werkzaam aan de Universiteit Utrecht en de Wageningen University in de COR.
Ik wil graag zorgen voor korte lijnen van het FOM personeel binnen de UU en WU naar de COR. Op die manier hoop ik bij te dragen aan de FOM identiteit van de mensen die werkzaam zijn in 'de buitengebieden'. Als je dus een vraag of opmerking hebt neem dan vooral contact met me op via m.p.boneschanscher@uu.nl of kom even langs in kamer 169 in het Ornsteinlaboratorium.
Mijn onderzoek doe ik aan de groep Condensed Matter and Interfaces aan de UU. Hier bestudeer ik de fundamentele eigenschappen van moleculen en nanokristallen met behulp van Scanning Tunneling Microscopy en Atomic Force Microscopy.

----------------------------------

At the end of 2009 I started my PhD research at the Utrecht University. Previous experience at the same university had already taught me how important the role of representation in a works council can be. Therefore I was happy to fill the vacancy for representation from the Utrecht University and the Wageningen University in the Central Works Council (COR).
I would like to ensure easy communication from the FOM staff in the UU and WU to the COR. In this way I hope to contribute to the FOM identity of the people working 'outdoors'. So if you have a question or remark, please contact me via m.p.boneschanscher@uu.nl, or pop by in room 169 in the Ornstein building.
My research is done at the group of Condensed Matter and Interfaces at the UU. Here I study the fundamental properties of molecules and nanocrystals using Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy.

Confidental Infomation