NWO - Nederlandse Organisatie voor Wetenschappelijk Onderzoek - print-logo

URL voor deze pagina :
https://archief.nwo-i.nl/nieuws/2014/11/13/fom-en-fei-leggen-fundament-voor-volgende-generatie-elektronenmicroscopen/

Geprint op :
26 maart 2025
09:41:27

In een Industrial Partnership Programme (IPP) koppelt FOM academische kennis aan industriële ambities, door hoogstaand natuurkundig onderzoek uit te voeren in samenwerking met bedrijven. Het is niet de eerste keer dat FOM en FEI hun krachten bundelen: zij werken vanaf 2007 al samen.

Brug science – engineering
Vrijdag 7 november startte het programma met een feestelijke kick-off aan de TU/e in het laboratorium van de groep Coherence and Quantum Technology aan de faculteit Technische Natuurkunde van FOM-werkgroepleider Jom Luiten, mede-indiener van het IPP. Tijdens deze middag bleek hoe mooi de brug tussen science en engineering met dit programma wordt geslagen. De CTO van FEI, Jens Greiser kijkt dan ook uit naar de eerste resultaten: "Het is een mooi voorbeeld van hoe co-creatie met onze technologiepartners en klanten een steeds belangrijkere rol inneemt bij innovatie. FEI stelt zich daarbij wel altijd de vraag welke basis er wordt gelegd voor de volgende generatie producten, waarmee we nieuwe klanten kunnen binden. In deze samenwerking met excellente wetenschappers verwacht ik snel concrete resultaten!"

Contact
Prof.dr.ir. Pieter Kruit , (015) 278 51 97
Dr. Victor Land, IPP-bureau FOM, (030) 600 12 17

Meer informatie
Op het YouTube-kanaal van FOM vindt u een kort videofragment over Physics & Industry at FOM.

Confidental Infomation